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OLED Panel老化测试系统
应用: -Multi-Channel OLED PM/AM Panel老化测试系统 -输出电压范围:-20~+20V -输出电流范围:+500mA(For mono cell
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OLED 残影测试系统
是一套卓立汉光专门针对OLED 屏幕短期残影的表征系统,采用高灵敏度的快速亮度计,实现高效表征屏幕的残影现象;主要功能• 短期残影测试;• 亮度均匀性测试;• 屏幕长期稳定性测试软件界面
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OLED/QLED发光器件寿命测试系统
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OLED柔性发光屏拉伸弯折扭曲及光学测试系统
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OLED 模组老化测试系统
应用 -OLED PM/AM 模组老化测试 -CC/CV DC/Pulse老化 -漏电流检测 -Multi-Channel操作 -根据客户的需求设计夹具(Jig
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日本EHC OLED的老化评估测量系统ELS-100
ELS-100 OLED的老化评估系统。一个随时间变化的评估系统,只需设置OLED元件就能在很长一段时间内测量发光特性。ELS-100是一个OLED设备,开机时间长,然后关机。这个评估系统通过捕捉
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OLED屏幕 手机及车载、机载显示屏高低温及寿命测试系统
多工位高低温环境寿命测试系统是一款针对于需要模拟不同温度环境下的产品寿命评估而研发的一款产品。主要是对于手机模组、穿戴式发光面板、车载显示屏等产品需要在不同温度区间工作,而在生产、研发阶段就需要提供
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OLED 电学/光学/老化 综合检测系统
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OLED寿命测试系统
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OLED I-V-L测试系统
主要用于OLED器件(照明,显示),OFET,LEC存储材料,OTFT,Panel,Module的效率检测,光学/电学特性检测。1、Size(mm) 尺寸:900(W)*500(D)*800(H
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